超声波无损探伤是目前应用相当广泛的无损探伤手段，此类传感器和光电开关传感器是完全不同的。常用的有以下几种类型：

　　A型超声波无损探伤：

　　A型超声波无损探伤是利用超声波在传播过程中遇到其他介质会反射的特性进行探伤的，其结果以二维坐标注表示，横轴对应时间，纵轴对应反射波强度，可以从二维坐标注中直接分析出缺陷的深度和大概尺寸。

　　B型超声波无损探伤：

　　B型超声波无损探伤的原理和医学上的B超类似，探头的横坐标注对应扫描距离，纵坐标注对应探伤尝试，屏幕的辉度亮度反映反射波的强度。其扫描过程是利用计算机控制发射晶片陈列来完成与机械移动探头相似的扫描动作，具有扫描速度快、定位准确的特点。

　　C型超声波无损探伤：

　　C型超声波无损探伤的工作原理和医学上的CT扫描类似，其扫描过程是采用计算机控制探头中的三维晶片陈列，使探头在材料的纵探方向进行扫描，扫描结果可以绘制出材料内部缺陷的横截面图。